最近关注了这个问题，发现这方面研究还挺多的。但就目前我还是不确定诊断IGBT老化有何意义。至少在国内好像没有人关注这个问题，现场IGBT坏就坏了，停机就可以了。对于在线式UPS应该更有意义，但UPS有冗余备份，可以解决这个问题。下面就总结一下我在这方面的理解。
1）通过检测门极电流和门极电压来诊断IGBT老化，这好像是目前最实用的一种方法，但是增加了驱动电路的复杂度。
2）通过辨识电路元件参数检测IGBT老化。我认为这种方法没有实际价值，主要是元器件参数本身就是随环境变化的，并且变化不小，哪能辨识准，并且实现较为复杂。
3）通过检测PWM的高频信号。当门极电阻较小时，PWM上升沿有一个振荡衰减过程，这个振荡过程随着IGBT老化减弱。我认为这种方法仍然没有实际价值，因为这种方法需要准确的分析电路的寄生参数，而寄生参数和太多因素有相关性。
4）通过测量IGBT导通压降或导通电阻检测老化。这种方法是最直观的，因为IGBT老化主要体现在IGBT导通电阻增加。但我同样认为这种方法不可行，因为这需要测量精度非常高。
5）通过提取电路的的控制特征参数检测老化。这个特征参数可以是电路的模拟量，或者控制量，或者这些量的关系式，在通过概率统计的方法对该特征参数进行分析。个人认为这种方法有一定可行性。
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